சுருக்கம்

Growth of silver nanoparticles on silica matrix: Study by x-ray photoelectron spectroscopy, x-ray diffraction and TEM

Surender Duhan


X-ray diffraction and X-ray photoelectron spectroscopy analyses are performed to investigate silver nanoparticles embedded in an amorphous SiO2 matrix. The different silver contents and reaction temperatures were investigated. silver -silica nanocomposites are prepared by sol–gel method. After the drying, the sol–gel samples are annealed in air environment. Crystalline silver nanoparticles are identified in sol–gel samples (20–50 nmsize).


மறுப்பு: இந்த சுருக்கமானது செயற்கை நுண்ணறிவு கருவிகளைப் பயன்படுத்தி மொழிபெயர்க்கப்பட்டது மற்றும் இன்னும் மதிப்பாய்வு செய்யப்படவில்லை அல்லது சரிபார்க்கப்படவில்லை

குறியிடப்பட்டது

  • CASS
  • கூகுள் ஸ்காலர்
  • ஜே கேட் திறக்கவும்
  • சீனாவின் தேசிய அறிவு உள்கட்டமைப்பு (CNKI)
  • CiteFactor
  • காஸ்மோஸ் IF
  • எலக்ட்ரானிக் ஜர்னல்ஸ் லைப்ரரி
  • டைரக்டரி ஆஃப் ரிசர்ச் ஜர்னல் இன்டெக்சிங் (DRJI)
  • ரகசிய தேடுபொறி ஆய்வகங்கள்
  • ICMJE

மேலும் பார்க்க

ஜர்னல் எச்-இண்டெக்ஸ்

Flyer