சுருக்கம்
Growth of silver nanoparticles on silica matrix: Study by x-ray photoelectron spectroscopy, x-ray diffraction and TEM
Surender Duhan
X-ray diffraction and X-ray photoelectron spectroscopy analyses are performed to investigate silver nanoparticles embedded in an amorphous SiO2 matrix. The different silver contents and reaction temperatures were investigated. silver -silica nanocomposites are prepared by sol–gel method. After the drying, the sol–gel samples are annealed in air environment. Crystalline silver nanoparticles are identified in sol–gel samples (20–50 nmsize).
மறுப்பு: இந்த சுருக்கமானது செயற்கை நுண்ணறிவு கருவிகளைப் பயன்படுத்தி மொழிபெயர்க்கப்பட்டது மற்றும் இன்னும் மதிப்பாய்வு செய்யப்படவில்லை அல்லது சரிபார்க்கப்படவில்லை