சுருக்கம்

Analytical model of threshold voltage and sub-threshold slope of SOI and SON MOSFET: A comparative study

S.K.Sarkar, Sanjoy Deb, N.Basanta Singh, Debraj Das


Athreshold voltagemodel based on three-interface compact capacitivemodel is developed for horizontal SOI/SONMOSFET. Different short channel effects like drain induced barrier lowering, 2-D charge sharing and fringing field effects are considered.Analytical simulation is done to understand the threshold voltage performance of silicon on insulator (SOI) and silicon on nothing (SON)MOSFET, under different structural and operational parameter variations. The performance of the two devices are studied and compared in terms of threshold voltage roll-off and subthreshold slope. Performance of SONMOSFET is found to be significantly different fromequivalent SOI device. SONMOSFET demonstrates lower threshold voltage rolloff and subthreshold slope due to reduced short channel effects. Present analysis is found to be useful to figure out the improvement of SON over SOI structures as a next generation short channel MOS structure.


மறுப்பு: இந்த சுருக்கமானது செயற்கை நுண்ணறிவு கருவிகளைப் பயன்படுத்தி மொழிபெயர்க்கப்பட்டது மற்றும் இன்னும் மதிப்பாய்வு செய்யப்படவில்லை அல்லது சரிபார்க்கப்படவில்லை

குறியிடப்பட்டது

  • CASS
  • கூகுள் ஸ்காலர்
  • ஜே கேட் திறக்கவும்
  • சீனாவின் தேசிய அறிவு உள்கட்டமைப்பு (CNKI)
  • CiteFactor
  • காஸ்மோஸ் IF
  • எலக்ட்ரானிக் ஜர்னல்ஸ் லைப்ரரி
  • டைரக்டரி ஆஃப் ரிசர்ச் ஜர்னல் இன்டெக்சிங் (DRJI)
  • ரகசிய தேடுபொறி ஆய்வகங்கள்
  • ICMJE

மேலும் பார்க்க

ஜர்னல் எச்-இண்டெக்ஸ்

Flyer