சுருக்கம்

Adhesion In Silicon Diamond Nanocontacts Is Boosted By Covalent Bonding And Atomic-level Plasticity

Reny Yuong


Nanoindentation and sliding studies were carried out in situ using a transmission electron microscope employing single-crystal silicon atomic force microscope probes in contact with diamond surfaces in vacuum. The experimentally measured works of adhesion after sliding were much higher than the values expected for pure van der Waals interactions. Furthermore, during the sliding, the works of adhesion increased with both normal stress and speed, demonstrating that applied stress played a key part in the interface's response. Complementary Molecular Dynamics (MD) simulations were performed to shed light on the atomic-level events that took place throughout the investigations.


மறுப்பு: இந்த சுருக்கமானது செயற்கை நுண்ணறிவு கருவிகளைப் பயன்படுத்தி மொழிபெயர்க்கப்பட்டது மற்றும் இன்னும் மதிப்பாய்வு செய்யப்படவில்லை அல்லது சரிபார்க்கப்படவில்லை

குறியிடப்பட்டது

  • CASS
  • கூகுள் ஸ்காலர்
  • ஜே கேட் திறக்கவும்
  • சீனாவின் தேசிய அறிவு உள்கட்டமைப்பு (CNKI)
  • CiteFactor
  • காஸ்மோஸ் IF
  • எலக்ட்ரானிக் ஜர்னல்ஸ் லைப்ரரி
  • டைரக்டரி ஆஃப் ரிசர்ச் ஜர்னல் இன்டெக்சிங் (DRJI)
  • ரகசிய தேடுபொறி ஆய்வகங்கள்
  • ICMJE

மேலும் பார்க்க

ஜர்னல் எச்-இண்டெக்ஸ்

Flyer